新竹2022年8月1日 /美通社/ -- MPI Corporation的先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門(mén)是半導(dǎo)體測(cè)試解決方案的行業(yè)領(lǐng)軍者及創(chuàng)新先鋒，該部門(mén)啟動(dòng)了帶有WaferWallet®MAX的TS3500-SE自動(dòng)晶圓探針測(cè)試系統(tǒng)向一個(gè)先進(jìn)WLR（晶圓級(jí)可靠性）測(cè)試流程中的整合。WaferWallet®MAX是一款多用途盒式FOUP自動(dòng)化200 mm和300 mm處理解決方案。
MPI Corporation為200mm和300mm WLR流程安裝其WaferWallet®MAX系統(tǒng)。MPI Corporation的先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門(mén)是半導(dǎo)體測(cè)試解決方案的行業(yè)領(lǐng)軍者及創(chuàng)新先鋒，該部門(mén)啟動(dòng)了帶有WaferWallet®MAX的TS3500-SE自動(dòng)晶圓探針測(cè)試系統(tǒng)向一個(gè)先進(jìn)WLR（晶圓級(jí)可靠性）測(cè)試流程中的整合。WaferWallet®MAX是一款多用途盒式FOUP自動(dòng)化200 mm和300 mm處理解決方案。
WaferWallet®MAX在不影響測(cè)量精度和能力的情況下，將整個(gè)測(cè)試時(shí)間增加了400%以上，從而提供了一種自動(dòng)化解決方案。它通過(guò)縮短溫度均熱時(shí)間（整體測(cè)試時(shí)間的一部分），進(jìn)一步提高了測(cè)試效率和生產(chǎn)力，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了熱/冷晶圓交換。這是一種獨(dú)特的能力，可在卡盤(pán)保持任何測(cè)試溫度的情況下裝卸晶圓。
MPI成功地與imec合作，將其WaferWallet®MAX解決方案整合到了imec的先進(jìn)可靠性穩(wěn)健性和測(cè)試(AR²T)部門(mén)，利用他們的200mm和300mm WLR資格認(rèn)定活動(dòng)來(lái)支持其Logic、Insite和Memory研發(fā)項(xiàng)目。
先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門(mén)總經(jīng)理Stojan Kanev表示：“大幅提高吞吐量并獲得更多的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，為我們的客戶(hù)實(shí)現(xiàn)了更快的上市時(shí)間。此外，在不增加額外成本的情況下，WaferWallet®MAX 300MM具有無(wú)可比肩的靈活性和現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)能力，是MPI自動(dòng)化TS3500系列晶圓測(cè)試系統(tǒng)的自然延伸，提供了一個(gè)經(jīng)濟(jì)高效的自動(dòng)化解決方案，用于提高測(cè)試單元效率和降低整體測(cè)試成本。”
WaferWallet®MAX通過(guò)MPI的SENTIO®多點(diǎn)觸控探針控制軟件套件，無(wú)縫集成了自動(dòng)盒式掃描、晶圓預(yù)對(duì)準(zhǔn)、頂部和底部ID讀取。在直觀(guān)操作和以客戶(hù)為中心的方法上，SENTIO®仍然是無(wú)可爭(zhēng)議的市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者，同時(shí)提供獨(dú)特的免費(fèi)升級(jí)路徑和公共域可編程工具。
