上海2013年11月22日電 /美通社/ -- 美國藍菲光學（Labsphere）將應邀參加2013年11月25日至27日在廣州保利世貿中心博覽館舉辦的2013第三屆高工LED照明展，展位號為2M73。
作為全球光測量領域的領導者，藍菲光學的光譜測試系統(tǒng)及積分球用漫反射涂料享譽全球照明及LED行業(yè)，在全球擁有眾多用戶。藍菲光學將在本次盛會上與參觀者分享2013年度藍菲光學在光譜測試領域取得的最新卓越成果。
屆時，藍菲光學不僅展示專為照明及LED工業(yè)類用戶量身定制的LFC光譜測試系統(tǒng)，同時還將全方位展示藍菲光學最新推出的新一代可自由定制系統(tǒng)模塊的光譜測試系統(tǒng) -- illumia® plus。
封裝LED行業(yè)的用戶可以了解如何利用藍菲光學的I1000B型和I2000 A&B型平均光譜強度探頭測量產品的CIE平均光譜強度。
參觀者還可以在藍菲光學的展位上看到現今市場上功能較強大的便攜式光譜分析測試設備 --illumia® lite，并親自體驗藍菲光學最新推出的光譜測試平臺Integral®是如何徹底改變傳統(tǒng)實驗室測試方式的。 Integral®軟件平臺能讓用戶的測試不再受到地域的限制，只需一臺可以訪問HTML5瀏覽器的終端設備，便可以從全球任一地點看到實驗室的測試結果。
作為全球首個定位于LED產業(yè)鏈的展覽會，高工LED展以其獨特的展示方式、高端的品牌定位，打造LED行業(yè)風向標，為業(yè)界搭建了一個專業(yè)而高品質的LED產品展示交流及采購平臺。
