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史密斯英特康推出最新高頻測(cè)試插座Joule 20

-- 為可穿戴設(shè)備、通訊、無(wú)人駕駛技術(shù)應(yīng)用的射頻芯片提供出色測(cè)試性能

倫敦2021年3月25日 /美通社/ -- 全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試插座和測(cè)試應(yīng)用解決方案供應(yīng)商史密斯英特康宣布推出其應(yīng)用于外圍IC測(cè)試的Joule 20高頻測(cè)試插座。

Joule 20 高頻測(cè)試插座
Joule 20 高頻測(cè)試插座

當(dāng)前隨著5G等高速通訊標(biāo)準(zhǔn)的升級(jí),新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī),平板,可穿戴設(shè)備,無(wú)人駕駛汽車等移動(dòng)設(shè)備,對(duì)RF射頻測(cè)試插座的需求越來(lái)越多,標(biāo)準(zhǔn)也越來(lái)越高。Joule 20出色的接觸技術(shù)和高頻能力有效的保證了信號(hào)傳輸?shù)目煽啃院屯暾浴4送?,其?chuàng)新的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)可允許拆卸測(cè)試插座外殼而無(wú)需將其從PCB板上卸下,在設(shè)備測(cè)試期間仍然可進(jìn)行清潔和維護(hù)工作,從而大大減少了設(shè)備停機(jī)時(shí)間并提高了測(cè)試產(chǎn)量。

Joule 20 高頻測(cè)試插座應(yīng)用于無(wú)人駕駛技術(shù)射頻芯片測(cè)試
Joule 20 高頻測(cè)試插座應(yīng)用于無(wú)人駕駛技術(shù)射頻芯片測(cè)試

Joule 20射頻測(cè)試插座具有出色的機(jī)械和電氣性能:

  • 插入插槽,匹配現(xiàn)有的PCB插槽尺寸
  • 極短的信號(hào)路徑,可提供高達(dá)20 GHz的高帶寬
  • 芯片和PCB之間的接觸電阻非常低,從而提高了測(cè)試良率
  • 高頻能力確保信號(hào)完整性和可靠性
  • 散熱能力支持從-40°C到+125°C
  • 接觸壽命長(zhǎng),最多插拔次數(shù)可達(dá)到500,000次

 “近年來(lái)數(shù)字時(shí)代的加速發(fā)展,對(duì)新的消費(fèi)電子產(chǎn)品以及自動(dòng)駕駛汽車產(chǎn)生了巨大的需求。集成電路的速度變得越來(lái)越快,功能越來(lái)越復(fù)雜,這就要求更高的測(cè)試可靠性和更少的測(cè)試時(shí)間以將產(chǎn)品快速推出市場(chǎng)。” 史密斯英特康半導(dǎo)體測(cè)試業(yè)務(wù)部副總裁兼總經(jīng)理Bruce Valentine說(shuō)。 “史密斯英特康的研發(fā)腳步也不敢懈怠,Joule 20射頻測(cè)試插座的解決方案可以大大提高測(cè)試生產(chǎn)量以及滿足對(duì)外圍封裝技術(shù)(QFN,QFP和SOIC)更快,更可靠且可重復(fù)的測(cè)試需求?!?/p>

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消息來(lái)源:史密斯英特康(Smiths Interconnect)
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